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光电器件的本质仍是半导体--每一片晶圆、每一颗芯片都需要在最基础的电学维度被验证。以IV和CV测试为代表的半导体器件电性能参数测试贯穿整个产业链流程;尤其在晶圆量产CP阶段，企业会特别关注测试成本、测试效率和测试结果的一致性。
VMP6000晶圆级半导体参数测试系统，是柯泰光芯基于深度垂直应用理念、专为半导体器件晶圆级电性能参数测试而开发的半自动探针台系统。

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VMP6000 - 晶圆级半导体参数测试系统

以IV和CV测试为代表的半导体器件电性能参数测试贯穿整个产业链流程。其中，在晶圆量产CP阶段，企业会特别关注测试成本、测试效率和测试结果的一致性。VMP6000系列是柯泰光芯基于深度垂直应用理念，专为半导体器件的晶圆级电性能参数测试而开发的半自动探针台系统。

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